WORKSHOP CAS INTI-IEEE Argentina 2017

ElIEEEes la asociación profesional más grande del mundo dedicada al avance de la innovación tecnológica y excelencia en beneficio de la humanidad. El IEEE y sus miembros inspiran una comunidad global a través de las altamente citadas publicaciones de IEEE, conferencias, estándares tecnológicos y actividades profesionales y educativas.IEEE, que se pronuncia usualmente"I-triple-E", significa elInstituto de Ingenieros Eléctricos y Electrónicosy es el nombre con el que está registrada la sociedad.Para obtener más información, puede consultaraquí.LaSección Argentina del IEEEfue fundada en1939y actualmente cuenta con la Subsección Córdoba y con Capítulos de 24 Sociedades Técnicas, de los Grupos de Afinidad'Life Members','Women In Engineering'y'Young Professionals'y del'Special Interest Group in Humanitarian Technology'(SIGHT) y con 31 Ramas Estudiantiles.

IEEE Argentina

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<DIV CLASS="layoutArea">
<DIV CLASS="column"><SPAN CLASS="s1">El Instituto Nacional de Tecnología Industrial tiene el agrado de invitar a usted:</SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><STRONG><SPAN CLASS="s1"><I>WORKSHOP CAS INTI-IEEE Argentina </I></SPAN><SPAN CLASS="s1"><I>2017</I></SPAN></STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><STRONG><SPAN CLASS="s1">OBJETIVOS</SPAN></STRONG></DIV>
<DIV CLASS="column"><SPAN CLASS="s1">En conjunto con los capítulos temáticos del IEEE Sección Argentina, este taller de trabajo expone distintos avances en las áreas de la Compatibilidad Electromagnética, Antenas y Seguridad de Producto, tanto en las mediciones de campos electromagnéticos para la evaluación de desempeño de los productos eléctricos y electrónicos, como en las normativas aplicables para su diseño y aprobación. </SPAN><SPAN CLASS="s1">Participarán en las exposiciones y paneles, profesionales de los ámbitos académico e industrial con el objetivo de lograr vinculaciones e interacción entre ambos espacios.</SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><STRONG><SPAN CLASS="s1">DESTINATARIOS</SPAN></STRONG></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG><SPAN CLASS="s1">Profesionales y técnicos de los ámbitos académico e industrial involucrados en el diseño y evaluación de productos eléctricos y electrónicos según normas, enfocados en mejorar la competitividad o ingresar al mercado.</SPAN><SPAN CLASS="s2"><BR> </SPAN><SPAN CLASS="s1">LUGAR</SPAN><SPAN CLASS="s1">Auditorio del Parque Tecnológico Miguelete, Av. General Paz Nº 5445 entre Albarellos y Av. de los Constituyentes, San Martín, pcia. de Buenos Aires</SPAN><SPAN CLASS="s3">.</SPAN><SPAN CLASS="s3"> </SPAN><SPAN CLASS="s1">FECHA</SPAN><SPAN CLASS="s1">28 de noviembre de 2017, de 8.00 a 18.00 h.<BR> <BR> </SPAN><SPAN CLASS="s4">INSCRIPCIÓN</SPAN></STRONG></DIV>
<DIV CLASS="column"><SPAN CLASS="s1">Actividad arancelada con inscripción previa (incluye almuerzo y refrigerios)</SPAN><SPAN CLASS="s3">.</SPAN><SPAN CLASS="s1"> </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN CLASS="s1"><SPAN CLASS="s8">Contacto:</SPAN></SPAN></DIV>
<DIV CLASS="column"><SPAN CLASS="s1">Silvia Díaz Monnier</SPAN></DIV>
<DIV CLASS="column"><SPAN CLASS="s1">TE: (54 11) 4724 6200/6300/6400 int. 6349</SPAN></DIV>
<DIV CLASS="column"><SPAN CLASS="s1">Correo electrónico: <A HREF="mailto:silviadm@inti.gob.ar" TARGET="_blank" REL="nofollow noopener noreferrer"><SPAN CLASS="s9">silviadm@inti.gob.ar</SPAN></A><BR> </SPAN><BR><BR><STRONG>PROGRAMA</STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><STRONG>8:00 a 8:45 h</STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Acreditación y recepción</SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><STRONG>8:45 a 9:00 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Apertura </SPAN><SPAN>- </SPAN><SPAN>60 años de INTI </SPAN><SPAN>Autoridad de INTI a confirmar</SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><STRONG>9:00 a 9:45 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Free Space Antenna Factor Computation Using Time Domain Gating and Deconvolution Filter for Site Validation of Fully Anechoic Rooms </SPAN><SPAN>(En inglés - sin traducción)<BR> </SPAN><SPAN>Anoop Adhyapak- ETS-Lindgren </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><STRONG>9:45 a 10:30 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>A Brief Overview on Chamber Validation Techniques and Components for Compliance Testing per Various EMC Standards </SPAN><SPAN>(En inglés - sin traducción)<BR> </SPAN><SPAN>Anoop Adhyapak – ETS-Lindgren </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>10:30 a 10:45 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Pausa para café </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>10:45 a 11:45 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>The future of Immunity Testing </SPAN><SPAN>(En inglés - sin traducción) </SPAN><SPAN>Mike Alferman- Amplifier Research </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>11:45 a 12:30 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Radio Link Power Density And Antenna Factor </SPAN><SPAN>Valentino Trainotti. IEEE Life Fellow. Disertante distinguido del IEEE </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>12:30 a 12:50 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Criterios de Diseño de Celdas de Medición de Materiales para determinar la Permitividad Eléctrica y la Permeabilidad Magnética en Microondas.<BR> </SPAN><SPAN>Inga Rittner Technische Universität Hamburg (TUHH) y W.G. Fano UBA. Facultad de Ingenieria. Laboratorio de Radiación Electromagnética </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>12:50 a 13:50 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Almuerzo </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><STRONG>13:50 a 14:10 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Protección de equipamiento sensible a Emisiones Conducidas debidas a Fuentes Naturales (RAYOS) </SPAN><SPAN>Julio Zola. UBA. FIUBA. Laboratorio de Circuitos Electrónicos </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>14:10 a 14:30 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column">Modelo de permitividad efectiva y medición de blindaje electromagnético en metamateriales.<BR>Autores: Federico Luna, Silvina Boggi y Walter Gustavo Fano<BR></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>14:30 a 14:45 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Pausa para café </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>14:45 a 15:05 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Diseño de equipos seguros - Diferentes aspectos </SPAN><SPAN>Ing. Andrea Méndez e Ing. Silvia Díaz Monnier - INTI </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>15:05 a 15:25 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Análisis de Riesgos </SPAN><SPAN>Ing. Andrea Méndez e Ing. Silvia Díaz Monnier - INTI </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>15:25 a 15:55 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Verificación y Validación de Software en Campo Regulado </SPAN><SPAN>Ing. Gustavo Alessandrini - INTI </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>15:55 a 16:15 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Asistencia Técnica en Compatibilidad Electromagnética </SPAN><SPAN>Ing. Luciano Blas - INTI </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>16:15 a 16:45 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Panel con los fabricantes nacionales que adecuaron sus diseños a la normativa vigente </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>16:45 a 16:50 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Cierre de la jornada </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>16:50 a 17:00 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Traslado a los laboratorios de EMC de INTI (Opcional) </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>17:00 a 18:00 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Visita a los Laboratorios de EMC de INTI </SPAN><SPAN>(Opcional) Presentaciones de Cámara Semianecoica y Scanner de campo cercano para predicción de emisión radiada de partes y componentes de un diseño electrónico. </SPAN></DIV>
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<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><BR></DIV>
<DIV CLASS="column"><STRONG>18:00 h </STRONG></DIV>
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<DIV CLASS="column"><SPAN>Fin del evento </SPAN></DIV>
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INTI - Instituto Nacional de Tecnología Industrial

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