WORKSHOP CAS INTI-IEEE Argentina 2017
Información sobre el evento
Descripción del evento
Descripción
El Instituto Nacional de Tecnología Industrial tiene el agrado de invitar a usted:
WORKSHOP CAS INTI-IEEE Argentina 2017
OBJETIVOS
En conjunto con los capítulos temáticos del IEEE Sección Argentina, este taller de trabajo expone distintos avances en las áreas de la Compatibilidad Electromagnética, Antenas y Seguridad de Producto, tanto en las mediciones de campos electromagnéticos para la evaluación de desempeño de los productos eléctricos y electrónicos, como en las normativas aplicables para su diseño y aprobación. Participarán en las exposiciones y paneles, profesionales de los ámbitos académico e industrial con el objetivo de lograr vinculaciones e interacción entre ambos espacios.
DESTINATARIOS
Profesionales y técnicos de los ámbitos académico e industrial involucrados en el diseño y evaluación de productos eléctricos y electrónicos según normas, enfocados en mejorar la competitividad o ingresar al mercado.
LUGARAuditorio del Parque Tecnológico Miguelete, Av. General Paz Nº 5445 entre Albarellos y Av. de los Constituyentes, San Martín, pcia. de Buenos Aires. FECHA28 de noviembre de 2017, de 8.00 a 18.00 h.
INSCRIPCIÓN
LUGARAuditorio del Parque Tecnológico Miguelete, Av. General Paz Nº 5445 entre Albarellos y Av. de los Constituyentes, San Martín, pcia. de Buenos Aires. FECHA28 de noviembre de 2017, de 8.00 a 18.00 h.
INSCRIPCIÓN
Actividad arancelada con inscripción previa (incluye almuerzo y refrigerios).
Contacto:
Silvia Díaz Monnier
TE: (54 11) 4724 6200/6300/6400 int. 6349
8:00 a 8:45 h
Acreditación y recepción
8:45 a 9:00 h
Apertura - 60 años de INTI Autoridad de INTI a confirmar
9:00 a 9:45 h
Free Space Antenna Factor Computation Using Time Domain Gating and Deconvolution Filter for Site Validation of Fully Anechoic Rooms (En inglés - sin traducción)
Anoop Adhyapak- ETS-Lindgren
Anoop Adhyapak- ETS-Lindgren
9:45 a 10:30 h
A Brief Overview on Chamber Validation Techniques and Components for Compliance Testing per Various EMC Standards (En inglés - sin traducción)
Anoop Adhyapak – ETS-Lindgren
Anoop Adhyapak – ETS-Lindgren
10:30 a 10:45 h
Pausa para café
10:45 a 11:45 h
The future of Immunity Testing (En inglés - sin traducción) Mike Alferman- Amplifier Research
11:45 a 12:30 h
Radio Link Power Density And Antenna Factor Valentino Trainotti. IEEE Life Fellow. Disertante distinguido del IEEE
12:30 a 12:50 h
Criterios de Diseño de Celdas de Medición de Materiales para determinar la Permitividad Eléctrica y la Permeabilidad Magnética en Microondas.
Inga Rittner Technische Universität Hamburg (TUHH) y W.G. Fano UBA. Facultad de Ingenieria. Laboratorio de Radiación Electromagnética
Inga Rittner Technische Universität Hamburg (TUHH) y W.G. Fano UBA. Facultad de Ingenieria. Laboratorio de Radiación Electromagnética
12:50 a 13:50 h
Almuerzo
13:50 a 14:10 h
Protección de equipamiento sensible a Emisiones Conducidas debidas a Fuentes Naturales (RAYOS) Julio Zola. UBA. FIUBA. Laboratorio de Circuitos Electrónicos
14:10 a 14:30 h
Modelo de permitividad efectiva y medición de blindaje electromagnético en metamateriales.
Autores: Federico Luna, Silvina Boggi y Walter Gustavo Fano
Autores: Federico Luna, Silvina Boggi y Walter Gustavo Fano
14:30 a 14:45 h
Pausa para café
14:45 a 15:05 h
Diseño de equipos seguros - Diferentes aspectos Ing. Andrea Méndez e Ing. Silvia Díaz Monnier - INTI
15:05 a 15:25 h
Análisis de Riesgos Ing. Andrea Méndez e Ing. Silvia Díaz Monnier - INTI
15:25 a 15:55 h
Verificación y Validación de Software en Campo Regulado Ing. Gustavo Alessandrini - INTI
15:55 a 16:15 h
Asistencia Técnica en Compatibilidad Electromagnética Ing. Luciano Blas - INTI
16:15 a 16:45 h
Panel con los fabricantes nacionales que adecuaron sus diseños a la normativa vigente
16:45 a 16:50 h
Cierre de la jornada
16:50 a 17:00 h
Traslado a los laboratorios de EMC de INTI (Opcional)
17:00 a 18:00 h
Visita a los Laboratorios de EMC de INTI (Opcional) Presentaciones de Cámara Semianecoica y Scanner de campo cercano para predicción de emisión radiada de partes y componentes de un diseño electrónico.
18:00 h
Fin del evento
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